专利名称：可用于X射线、γ射线辐射实验的多功能探针台测
试系统
专利类型：发明专利
发明人：归靖慷,赵策洲,胡新立申请号：CN201110079362.0申请日：20110331公开号：CN102226832A公开日：20111026
摘要：本发明公开了一种可用于X射线、γ射线辐射实验的多功能探针台测试系统，包括探针测试平台，所述探针测试平台包括待测芯片（1）、内置放射源（3）的铅容器（4）和观测待测芯片变化的显微镜（2），其特征在于所述系统还包括辐射防护暗箱（5），所述探针测试平台设置在辐射防护暗箱（5）内，所述铅容器上端开口，待测芯片（1）放置在铅容器开口上，所述待测芯片（1）上端设置探针座（8）；所述铅容器下端设置调节待测芯片（1）的空间位置的空间位置调节装置。该系统不仅具有普通探针台的测试功能，而且能方便地、安全地实现光子辐射芯片的测试。
申请人：西交利物浦大学
地址：215123 江苏省苏州市工业园区独墅湖高等教育区仁爱路111号
国籍：CN
代理机构：苏州创元专利商标事务所有限公司
代理人：范晴
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