专利名称：一种电子设备效能的环境影响评估方法专利类型：发明专利
发明人：高岚岚,李学军,禇明伟申请号：CN201510731930.9申请日：20151102公开号：CN105373884A公开日：20160302
摘要：本发明涉及电子设备技术领域，特别是一种电子设备效能的环境影响评估方法，包括以下步骤，引入实际应用环境因素：对电子设备实际应用环境因素进行分类、概括、综合以及分析，结合原有电子设备的能力指标集，得到考虑实际环境因素的新的设备能力指标体系；实际应用环境影响模型计算：采用实际应用环境模型，得到实际应用环境对设备能力指标的影响值；综合评估：根据新的设备能力指标体系，利用综合评估模型，计算设备实际能力指标集，得到考虑实际应用环境的电子设备实际评估结果。采用上述方法后，本发明给出了电子设备实际应用环境因素的评估模型,体现各实际应用环境因素对电子设备效能的影响作用，使电子设备效能评估结果更为准确和可信。
申请人：高岚岚
地址：100141 北京市丰台区大成路13号
国籍：CN
代理机构：北京众合诚成知识产权代理有限公司
代理人：龚燮英
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