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提高晶体硅块少子寿命测试准确度的方法[发明专利]

2022-12-18 来源:小奈知识网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:提高晶体硅块少子寿命测试准确度的方法专利类型:发明专利发明人:陈文杰,许红方,赵洋申请号:CN201810603657.5申请日:20180612公开号:CN108646162A公开日:20181012

摘要:本申请公开了一种提出了一种提高晶体硅块少子寿命测试准确度的方法,在对晶体硅块进行少子寿命测试前,将晶体硅块在恒温水浴装置中进行恒温放置,在测试时取出晶体硅块,及时测试晶体硅块的少子寿命,在晶体硅块温度出现变化前,就完成了少子寿命的测试工作,这样就保证了少子寿命测试所需的温度,消除了测试温度对少子寿命测试结果的影响,从而提高了晶体硅块少子寿命的测试准确度。通过少子寿命的测试结果,对晶体硅块的生产工艺和配方进行适当的调整,从而保证了晶体硅块的生产质量。

申请人:山东大海新能源发展有限公司

地址:257300 山东省东营市广饶县经济开发区綦公路以北、西康路以西

国籍:CN

代理机构:济南千慧专利事务所(普通合伙企业)

代理人:王宽

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