专利名称：X射线无损检测设备专利类型：发明专利发明人：孙洋
申请号：CN201510554361.5申请日：20150902公开号：CN105092615A公开日：20151125
摘要：本发明涉及无损检测领域，公开了一种X射线无损检测设备，Y轴滑轨（3）水平固定在底座（1）上，X轴滑轨（2）与Y轴滑轨滑动连接，支架（6）固定在X轴滑轨上，Z轴滑轨（4）固定在支架上，C型臂（5）与固定块（7）转动连接，固定块与Z轴滑轨滑动连接；第一和第二伺服电机分别通过第一和第二传动杆与支架驱动连接，第三伺服电机通过第三传动杆与固定块驱动连接，第四伺服电机通过第四传动杆与C型臂驱动连接，X光机（8）和X射线平板探测器（9）分别固定在C型臂上下端，检测时载物台（10）移动到（8）和（9）之间。本设备能够通过移动光源对工件定位，且C型臂在四个方向上可以同时移动，定位迅速，检测效率较高。
申请人：苏州科耐视智能科技有限公司
地址：215000 江苏省苏州市苏州工业园区仁爱路150号
国籍：CN
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