专利名称：用于物位测量的方法专利类型：发明专利
发明人：阿列克谢·马利诺夫斯基,赫伯特·施罗思,迪特马尔·施
潘克
申请号：CN200880120522.8申请日：20081212公开号：CN101896797A公开日：20101124
摘要：公开了一种用于物位测量的方法，其中在容器(1)中存在第一和/或第二填充物质(3，5)，对于容器(1)中含有的每一填充物质(3，5)可以确定一个静止位置，其对应于当容器(1)中的每一填充物质(3，5)的总量形成一个仅仅包含这种填充物质(3，5)的单一层时，由于容器(1)中含有的第一填充物质(3)的量以及容器(1)中含有的第二填充物质(5)的量而使得相应填充物质(3，5)的填充物质上表面所处的位置；其中第一填充物质(3)比第二填充物质(5)的比重小，并且两种填充物质(3，5)具有不同的介电常数(ε)，其中电磁信号(S)被发送进入容器(1)，在至少一个由容器(1)中含有的填充物质(3，5)产生的介质分界层上发生反射，其中信号(S)的一部分(Rx，Ry)被反射，并且对于每一反射的部分(Rx，Ry)都测量依赖于引起反射的介质分界层的位置的渡越时间(Tx，Ty)，这个渡越时间是测量信号(S)的这个部分(Rx，Ry)到达这个介质分界层并返回所需的；测量电容性探头(13)和参考电极(15)之间的电容(C)，该电容依赖于容器(1)中存在的填充物质(3，5)的量；并且依赖于测量电容(C)和测量渡越时间(Tx，Ty)，对于容器(1)中存在的每一填充物质(3，5)确定其填充物质上表面的静止位置。
申请人：恩德莱斯和豪瑟尔两合公司
地址：德国毛尔堡
国籍：DE
代理机构：中原信达知识产权代理有限责任公司
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