专利名称：磁场测量仪专利类型：外观专利
申请号：CN200530002476.0申请日：20050204公开号：CN3477864D公开日：20050928
专利附图：
申请人：株式会社日立高新技术
地址：日本东京都
国籍：JP
代理机构：北京银龙知识产权代理有限公司
代理人：张敬强
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